#author("2019-06-13T14:39:47+09:00","default:xtopo","xtopo")
*Purpose [#o5fe52b9]


X線トポグラフィ研究会では、結晶性物質中の高次構造の実空間分布をX線の回折・散乱現象を利用して可視化する技術の開発・改良とその利活用に関する科学・関連工学を探求する事を目的とする．
X-ray topography is a nondestructive characterization technique of defects in crystals by means of X-ray diffraction and scattering, providing us with the distribution of defects in real space. The aim of the group is the further development and improvement of X-ray topography and its application to the field of materials science and engineering. 

先端的X線トポグラフィ技術の開発においてはSPring-8シンクロトロン放射光の大強度，高輝度，高エネルギー，高干渉性などの特徴を十分に生かし，空間分解能，実時間観察の時間分解能，コントラスト比の飛躍的向上を目指す．開発された技術・手法の適用範囲を従来観察評価が困難であったようなものへと格段に広げる．
In the development of the advanced techniques in X-ray topography we utilize high flux, brilliance, energy, and coherence in synchrotron X-rays of SPring-8, and aim for high spatial and time resolution, and improvement of image quality. We, then, expand the range of the application to what were difficult to observe and characterize.  

新たに開発された回折イメージング技法の適用範囲拡大においては，各種無機および有機人工結晶，人工多層膜，人工不均一構造の評価だけではなく，電子デバイスなどの内部に存在する格子欠陥や格子ひずみを非破壊的に観測し，デバイス特性の最適 化・高性能化に資することなどを通して，産業利用を志向するグループとの連携・共同を強化する．X線トポグラフィ及び関連技術に関する最新情報の交換と新規アイデアの醸成を目的とした研究会会合を企画立案・開催する．
By using these advanced techniques we characterize the defects in a variety of inorganic and organic materials, artificial crystals, multilayer structures, and artificial nonuniform structures. We also apply to the nondestructive characterization of lattice defects and strain inside electric devices and contribute to the optimization and the improvement of the device performance by the interrelationships with industrial researchers. 

We hold several meetings in a year in order to exchange of information related with the techniques and materials and foster of new idea of X-ray topography.
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